石英摄谱仪检测摘要:检测项目1.波长范围校准:200-800nm全波段覆盖精度0.05nm2.分辨率测试:0.02nm@313.2nm(Hg双线法)3.检出限验证:Cd228.8nm≤0.5μg/L(ICP-OES模式)4.重复性测试:RSD≤1.5%(Fe259.94nm连续10次测量)5.基体效应评估:20%NaCl溶液对Cu324.75nm信号抑制率≤15%检测范围1.有色金属材料:铝基/铜基合金中Fe、Si、Mn等痕量杂质(0.001%-0.1%)2.钢铁制品:碳钢及不锈钢中C、S、P等非金属元素(GB/T223系列
参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
1.波长范围校准:200-800nm全波段覆盖精度0.05nm
2.分辨率测试:0.02nm@313.2nm(Hg双线法)
3.检出限验证:Cd228.8nm≤0.5μg/L(ICP-OES模式)
4.重复性测试:RSD≤1.5%(Fe259.94nm连续10次测量)
5.基体效应评估:20%NaCl溶液对Cu324.75nm信号抑制率≤15%
1.有色金属材料:铝基/铜基合金中Fe、Si、Mn等痕量杂质(0.001%-0.1%)
2.钢铁制品:碳钢及不锈钢中C、S、P等非金属元素(GB/T223系列标准)
3.半导体材料:硅晶圆表面金属污染(Na、K、Fe等≤1E10atoms/cm)
4.环境监测:土壤/水体中As、Hg、Pb等重金属(EPA6010D方法)
5.地质矿物:岩石样品中稀土元素La-Lu定量分析(ISO22036:2008)
1.ASTME1257-16:金属样品前处理及激发参数设定规范
2.ISO14707:2015:辉光放电光谱法表面分析技术规程
3.GB/T20975.25-2020:铝及铝合金光电直读光谱分析方法
4.JISH1630:2014:钛合金火花源原子发射光谱标准
5.DIN51009:2013:熔融玻璃体氧化物成分光谱测定法
1.ThermoScientificiCAP7400ICP-OES:轴向观测系统,波长范围167-852nm
2.PerkinElmerOptima8300:双单色器设计,分辨率≤0.006nm@200nm
3.Agilent5100SVDV:同步垂直双向观测ICP-OES系统
4.HitachiPS3520UV-DD:真空紫外通道扩展至165nm
5.GBCQuantimaCCD:全谱直读型光谱仪,20482048像素阵列
6.BrukerQ4TASMAN:火花源光谱仪,氩气冲洗光学室设计
7.ShimadzuPDA-7000:等离子体诊断辅助系统
8.SkyrayInstrumentPlasma1000:中阶梯光栅交叉色散结构
9.RigakuOE750:真空紫外光学系统(120-190nm)
10.SpectroARCOSII:40MHz射频发生器,功率稳定性0.1%
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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